南芯科技推出第二代车规级高边开关SC77450CQ

近日，南芯科技正式发布第二代车规级高边开关 (HSD) SC77450CQ。该芯片基于国内自主研发的垂直沟道 BCD 集成工艺和全国产化封测供应链，在 N 型衬底单晶圆上实现了 MOS 与控制器的融合。

图 | 南芯科技高边开关产品家族，来源：南芯科技官网

SC77450CQ 是一款四通道智能高边开关，导通电阻低至 50mΩ，可实现 4V-28V 宽压供电、40V 抛负载耐压及 0.5μA 待机电流。该产品可实现高精度电流检测，2A 时电流检测精度达 ±4%；采用带散热焊盘的 eSSOP-14 封装，引脚兼容国际竞品。

图 | SC77450CQ 引脚图，来源：南芯科技官网

SC77450CQ 集成了完备的保护机制和精确的诊断功能，包括过流和对地短路自关断、相对过热保护和绝对过热保护、智能锁止功能、负电压钳位、关断状态开路和对电池短路检测、掉地与掉电保护、过压与欠压保护，可多路复用模拟信号输出，实时按比例反馈各通道负载电流。

图 | SC77450CQ 典型应用图，来源：南芯科技官网

以下波形图展示了 SC77450CQ 在各种严苛工况条件下的卓越表现，包括：驱动卤素灯负载、驱动容性负载、感性负载关断、输出开通后短路、输出短路再开通等情况。

图 | 卤素灯负载测试波形图（V_s=16V，芯片环温?105℃，5W?卤素灯保持?-40℃，一次开启），来源：南芯科技官网

图 | 容性负载测试波形图（V_s=12V，Load=10μF//20Ω，T_a=25℃，600μs?电容充满），来源：南芯科技官网

图 | 感性负载测试波形图（Vs=14V，idc=7A，Iload=0.5mH，Ta=25℃），来源：南芯科技官网

图 | 输出开通后再短路测试波形（V_s=18V/0.5?米线，V_out?5?米线，T_a=25℃），来源：南芯科技官网

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图 | 输出短路再开通测试波形（V_s=20V/5?米线，V_out?0.5?米线，T_a=25℃），来源：南芯科技官网