芯耀
4.2万
为了满足不同应用场景下对信号完整性的高要求，PCB测试不仅涵盖S参数和TDR阻抗，还需深入分析材料的介电常数（Dk）与介电损耗（Df）等物理特性。准确的介电常数不仅有助于优化设计，还能提升仿真与实测结果的一致性，从而显著提高开发效率。 本次专题将聚焦于PCB测试中常见的挑战与应对策略，欢迎对PCB信号完整性测试感兴趣的朋友参加我们的线上研讨会，共同探讨前沿测试技术与解决方案！
直播亮点
- S参数与TDR阻抗测试
- PCB夹具提取与去嵌技术（AFR）
- 原材料与传输线上的Dk/Df测试方法
演讲嘉宾
答疑嘉宾
于洋 — 高级应用工程师
本科及研究生毕业于电子科技大学电磁场与微波技术专业，曾长期从事射频微波系统及半导体相关的研发工作，并著有发明专利一项及多篇学术交流文章。于2014年加入是德科技，担任技术与支持部应用工程师，主要从事射频微波类产品、阻抗分析及半导体参数分析类产品的技术支持工作，对元器件/半导体器件等相关参数测试有着丰富经验。
直播福利
现场参会并提交问卷有机会获得是德科技公司提供的抽奖礼品（礼品图片仅供参考，请以收到实物为准！）
主办方
是德科技（NYSE：KEYS）启迪并赋能创新者，助力他们将改变世界的技术带入生活。作为一家标准普尔 500 指数公司，我们提供先进的设计、仿真和测试解决方案，旨在帮助工程师在整个产品生命周期中更快地完成开发和部署，同时控制好风险。我们的客户遍及全球通信、工业自动化、航空航天与国防、汽车、半导体和通用电子等市场。我们与客户携手，加速创新，创造一个安全互联的世界。了解更多信息，请访问是德科技官网 www.keysight.com
